技術(shù)文章
Technical articlesX熒光光譜儀屬于無損害的測(cè)量?jī)x器設(shè)備，它的優(yōu)勢(shì)就是在測(cè)量樣品時(shí)不需要提前進(jìn)行特殊的處理即可測(cè)量的儀器，能夠迅速獲得測(cè)量的結(jié)果。但對(duì)于樣品形狀、大小能夠滿足測(cè)量的需求，以及是否存在干擾元素都將對(duì)X熒光光譜儀測(cè)量結(jié)果的精準(zhǔn)度造成一定的影響。樣品大小應(yīng)依據(jù)X熒光光譜儀光斑的大小進(jìn)行區(qū)分，光斑可以*照在樣品上并且其的厚度也能達(dá)到相應(yīng)的要求，能直接放置在測(cè)試室當(dāng)中進(jìn)行測(cè)量。光斑無法直接照在樣品上，也就是說樣品小于光斑，應(yīng)該放在同一樣品杯中，達(dá)到相應(yīng)量，再進(jìn)行壓緊，切不可留有間隙，最后實(shí)...
鍍層測(cè)厚儀主要用于金屬材料表面涂鍍層厚度的測(cè)量，一般常采用無損檢測(cè)方法。但是，由于測(cè)量對(duì)象、測(cè)量方法、測(cè)量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引進(jìn)了諸多測(cè)量誤差，為確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確可靠，有必要對(duì)其進(jìn)行不確定度分析。鍍層厚度的測(cè)試方法按照測(cè)試方法的基本原理類型可以分為化學(xué)法、電化學(xué)法和物理法三大類。其中，⑴化學(xué)法包括化學(xué)溶解分析法、化學(xué)溶解稱重法和化學(xué)溶解液流計(jì)時(shí)法；⑵電化學(xué)法包括電化學(xué)陽極溶解法(庫侖法)；⑶物理法包括直接測(cè)量法和儀器測(cè)量法(磁性法、非磁性法、X射線法和電鏡法等)。鍍層厚度...
X熒光光譜儀是一種常用的光譜技術(shù)，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測(cè)量等。對(duì)于不同的應(yīng)用用途，X熒光光譜儀體系中探測(cè)器的選擇也不盡相同。對(duì)于定性分析往往需要用到硅漂移探測(cè)器。硅漂移探測(cè)器（SDDs）能夠提高低能量敏感度，使得X射線熒光光譜技術(shù)可以對(duì)一些低原子序數(shù)元素進(jìn)行檢測(cè)分析，甚至是在空氣氣氛中也能進(jìn)行檢測(cè)，例如用于測(cè)量化學(xué)鍍鎳涂層中磷元素（原子序數(shù)Z=15）的含量。但是，大多數(shù)的低原子序數(shù)元素的檢測(cè)分析依然還需要隔離空氣氣氛。近年來比較流行的是一種...
對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試時(shí)，樣品的拆分一定要做好相關(guān)的準(zhǔn)備工作，然后按照要求進(jìn)行拆分。以下內(nèi)容詳細(xì)介紹ROHS檢測(cè)儀器測(cè)試樣品時(shí)的拆分準(zhǔn)備與要求：一、環(huán)境1、拆分區(qū)域與實(shí)驗(yàn)室拆分區(qū)域應(yīng)相對(duì)，并足夠用于拆分操作。保持拆分環(huán)境潔凈，室內(nèi)溫度在20-25度左右，濕度低于80%。對(duì)溫濕度應(yīng)實(shí)施監(jiān)控，并應(yīng)避免陽光直射。本要求同時(shí)適合于ROHS測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的環(huán)境要求。2、拆分工作臺(tái)拆分工作臺(tái)應(yīng)平整呢個(gè)、潔凈、耐磨損、耐腐蝕、有足夠承重力，臺(tái)面面積應(yīng)滿足拆分工作和樣品擺放的要求。3、安全防護(hù)應(yīng)避免拆分...
X熒光光譜儀的分析方法是一個(gè)相對(duì)分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復(fù)操作可能性，所以用于制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的標(biāo)準(zhǔn)樣品和分析樣品必須經(jīng)過同樣的制樣處理過程。X射線熒光實(shí)際上又是一個(gè)表面分析方法，激發(fā)只發(fā)生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對(duì)于整個(gè)樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是否有變化，樣品中是否存在不均勻的多孔狀態(tài)等。樣品制備過程由于經(jīng)過多步驟操作，還必須防止樣品的損失和沾污。1、由樣品制備和樣品自身引起的誤差：（1）樣品的均勻性。（2）樣品的表面效應(yīng)。（...
覆層的厚度測(cè)量已成為金屬加工工業(yè)進(jìn)行成品質(zhì)量檢測(cè)必要的最重要的工序，鍍層測(cè)厚儀的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進(jìn)步而更加至關(guān)重要，下面總結(jié)測(cè)厚儀購買需要注意的八大事項(xiàng)：1.首先需要了解測(cè)試的需求，如測(cè)試基體材料、涂鍍層材料、測(cè)試范圍及精度需求，若濕膜或高溫條件下測(cè)量時(shí)需特別說明。2.其次對(duì)于塑料膜，紙巾，錫紙厚度的測(cè)量，測(cè)量?jī)x型號(hào)的選擇不受限制。3.對(duì)于有曲率的工件需提供曲率半徑值，對(duì)比鍍層測(cè)厚儀的曲率是否滿足現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量需求，如超標(biāo)需要配置特配探頭。4.從正規(guī)渠道購買鍍層測(cè)...
鍍層是一種用金屬在表面沉積的工藝，已有數(shù)百年的歷史，被廣泛應(yīng)用于輕工業(yè)、電子電氣、機(jī)械等行業(yè)，現(xiàn)已成為了社會(huì)發(fā)展中不可少的基礎(chǔ)工藝。隨著工業(yè)經(jīng)濟(jì)對(duì)鍍層技術(shù)的需求日期增加，對(duì)電鍍層的質(zhì)量也有了更嚴(yán)格的要求。這也要求對(duì)電鍍制品的檢查方法和評(píng)判技術(shù)，需要在時(shí)間、方法、精準(zhǔn)度等方面更加高效。鍍層質(zhì)量檢查的內(nèi)容因零件和鍍層而異，但其中鍍層的厚度是鍍件品質(zhì)的最重要保證因素。相比于傳統(tǒng)的陽極溶解庫侖法、金相法、溶解稱重法、液流法、點(diǎn)滴法等鍍層測(cè)量方法，XRF技術(shù)因?yàn)槠錈o損、快速、可靠等優(yōu)點(diǎn)...
鍍層測(cè)量?jī)x的測(cè)量方法主要有、楔切法，光截法，電解法，厚度差測(cè)量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等等。它是用來測(cè)量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測(cè)量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。鍍層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的重要手段。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)覆層厚度有了明確的要求。鍍層測(cè)量?jī)x的性能特點(diǎn)有哪些？1、采用雙功能內(nèi)置式探頭，自動(dòng)識(shí)別...
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