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X熒光測(cè)厚儀

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XRF鍍層測(cè)厚儀,俗稱(chēng)X射線熒光測(cè)厚儀、XRF鍍層測(cè)厚儀、XRF膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、XRF金鎳厚測(cè)試儀、XRF電鍍,XRF鍍層測(cè)厚儀,俗稱(chēng)X射線熒光測(cè)厚儀、XRF鍍層測(cè)厚儀、XRF膜厚儀、膜厚測(cè)試儀、XRF金鎳厚測(cè)試儀、XRF電鍍膜厚儀等；主要應(yīng)用于精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度；廣泛應(yīng)用于電路板、端子連接器、LED、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、五金電鍍、珠寶首飾、汽車(chē)配件、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及研究所和高等院校等主要應(yīng)用于精密測(cè)量金屬電鍍層的厚度；廣泛應(yīng)用于電路板、端子連接器、LED、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、五金電鍍、珠寶首飾、汽車(chē)配件、檢測(cè)機(jī)構(gòu)以及研究所和高等院校等；