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能量色散X射線光譜儀（EDX4500）是利用XRF技術(shù)解決國(guó)內(nèi)各類合金制造廠中對(duì)于多種類型合金中元素的快速、準(zhǔn)確分析。該技術(shù)的主要特征為：利用低能X射線激發(fā)合金中的待測(cè)元素，在真空狀態(tài)下對(duì)Si、S、AI等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率； 采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比； 采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一

更準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果是天瑞人堅(jiān)持不懈的追求，同時(shí)天瑞人還時(shí)刻牢記為客戶提供更優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。全新開(kāi)發(fā)研制的EDX 9000PX熒光光譜儀正是秉承了這一理念。它不僅繼承了天瑞儀器EDX能量色散X熒光光譜儀系列準(zhǔn)確、快速、無(wú)損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用分析儀器行業(yè)良好的極速探測(cè)器技術(shù)（X-SDD）可將測(cè)試時(shí)間降低到1秒。同時(shí)EDX 9000P還采用了天瑞儀器產(chǎn)品精密的定位系統(tǒng)，